SE1高精度纠偏
极片破损检测能力强 。采样频率高达4kHz 。响应时间低至250μs。适用于边缘位置波动范围小，测量精度高，响应速度快的应用场景，如锂电行业卷绕机电芯入卷纠偏检测、极片缺陷检测，隔膜纠偏检测。纠偏测量范围+-5mm, 重复精度5um。搭配控制单元模拟量和Ethercat总线通讯，一拖二。网址：https://www.cnsszn.com/productinfo
品牌优势
品质保障
服务优势
售后保障
极片破损检测能力强 。
采样频率高达4kHz 。
响应时间低至250μs。
适用于边缘位置波动范围小，测量精度高，响应速度快的应用场景，
如锂电行业卷绕机电芯入卷纠偏检测、极片缺陷检测，隔膜纠偏检测。纠偏测量范围+-5mm, 重复精度5um。
搭配控制单元模拟量和Ethercat总线通讯，一拖二。
